AFT-RC系列同轴光源为反射度极高的表面提供对位及表面检查照明,如金属表面、薄膜、晶片、胶片及玻璃等的划伤检查、芯片和硅晶片的破损检测、玻璃板的表面损伤、PC母板的图谱检测、印刷版的图形检查等。
产生模拟平行同轴照明光源,可消除因物体表面不平整而引起的阴影,从而减少干扰。
类型 | 规格型号 | 外形尺寸(mm) | 上口(mm) | 下口(mm) | 颜色 | 电压(V) | 电流(mA) | 功率(W) | 重量(g) | 标配控制器 |
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同轴光源 | AFT-RC60 | 62*40*40 | 30*30 | 35*32 | 红(R) 白(W) 蓝(B) | 白/蓝:18 红:12 | 80 | 白/蓝:1.4 红:1.0 | 125 | AFT-ALP2405-01 |
AFT-RC70 | 75*46*47 | 36*36 | 43*38 | 白/蓝:18 红:12 | 100 | 白/蓝:1.8 红:1.2 | 160 | AFT-ALP2405-01 | ||
AFT-RC80 | 80*51*58 | 45*46 | 58*50 | 白/蓝:18 红:12 | 100 | 白/蓝:1.8 红:1.2 | 300 | AFT-ALP2415-02 | ||
AFT-RC90 | 95*70*70 | 60*60 | 67*62 | 白/蓝:21 红:14 | 100 | 白/蓝:2.1 红:1.4 | 435 | AFT-ALP2420-02 |
AFT-RC70 | AFT-RC80 | AFT-RC90 |
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应用领域:
均匀照明反射度极高的物体如:金属、玻璃、胶片、晶片等光洁表面的划伤检查。芯片和硅晶片的破损检测,Mark点定位,玻璃板的表面损伤检测及 Pc母板的图谱检测、包装的条码识别。
应用实例
轴承检测 | 定位标志检测 | 手机键盘划伤检测 |
芯片字符检测 | PCB基板MARK点检测 | 金属表面划痕检测 |
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